UG-S20;UG-S50
纯 度：光谱法分析测试杂质含量。
晶粒度：X—衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。
颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角度散射法；GB/T13390粉末比表面的测定—氮吸附法（BET）：透射电镜（TEM）观察。
比表面积：GB/T13390粉末比表面的测定—氮吸附法（BET）。
参数指标：
|
品名 |
纳米二氧化锡 |
|
平均粒径 |
20nm 50nm |
|
纯度 |
99.8% |
|
比表面积 |
50m2/g 15m2/g |
主要用途：
①化工原料，ITO等半导体电子工业材料，
②陶瓷釉料的遮光剂、乳浊剂、着色剂，气敏元件材料，
③导电陶瓷及电极材料，抗菌材料，低辐射玻璃，抗静电材料，有机合成催化剂，锡盐，织物媒染剂和增重剂，钢和玻璃的磨光剂等。
④银锡触头材料。银氧化锡触头材料是近年发展迅速的新型环保电触头材料,是替代传统银氧化镉触头的理想材料；
⑤塑料和建筑行业的抗静电添加剂；
⑥用于平板和CRT(阴极射线管)显示的透明导电材料；
⑦电工及电子元件；
⑧用于熔炼特种玻璃的氧化锡电极 ；
⑨用于光催化抗菌材料等。
手机：15862568573 QQ：2845241204 电话:0512-63025683
苏州优锆纳米材料有限公司 发现材料之美 创造科技之光
UG-S20;UG-S50
纯 度：光谱法分析测试杂质含量。
晶粒度：X—衍射（XRD）线宽化法平均晶粒的测定。
颗粒度：GB/T13221纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角度散射法；GB/T13390粉末比表面的测定—氮吸附法（BET）：透射电镜（TEM）观察。
比表面积：GB/T13390粉末比表面的测定—氮吸附法（BET）。
参数指标：
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品名 |
纳米二氧化锡 |
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平均粒径 |
20nm 50nm |
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纯度 |
99.8% |
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比表面积 |
50m2/g 15m2/g |
主要用途：
①化工原料，ITO等半导体电子工业材料，
②陶瓷釉料的遮光剂、乳浊剂、着色剂，气敏元件材料，
③导电陶瓷及电极材料，抗菌材料，低辐射玻璃，抗静电材料，有机合成催化剂，锡盐，织物媒染剂和增重剂，钢和玻璃的磨光剂等。
④银锡触头材料。银氧化锡触头材料是近年发展迅速的新型环保电触头材料,是替代传统银氧化镉触头的理想材料；
⑤塑料和建筑行业的抗静电添加剂；
⑥用于平板和CRT(阴极射线管)显示的透明导电材料；
⑦电工及电子元件；
⑧用于熔炼特种玻璃的氧化锡电极 ；
⑨用于光催化抗菌材料等。
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