半导体x射线检测设备

    赛可（SEC）X-RAY设备X-eye6300Series简介：
    ●搭载自主研发·生产的0.8umFocalspotsize的HybridOpenTube，z小可检测出50微米的细微缺陷
    ●FOV3.5秒的高速(High)3DIn-line检测设备
    ●搭载自主研发·生产的HybridopenTube，减少维护费用，高(High)效率检测设备
    ●世界高水平的(Volumetric)检测，以In-line形态提供高（High）精度
    ●高可靠性的检测设备DetectorTit70°的结构，以z小化歪曲的ObliqueCT方式提供超高分辨率(High)的检测设备
    ●汽车电子、SMT、半导体领域的Non-wet、HIP、Short、Missing、Void等各种检测的检测设备
    赛可（SEC）X-RAY设备ln-lineAXlSystem适用于systemIndustry4.0和Smartfactory，具有行业z高的检测速度提高效率，并且通过AI智能检测算法精准的判定良品和不良品。
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